【導(dǎo)讀】分析了高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)對采樣時(shí)鐘抖動(dòng)的要求,給出了時(shí)鐘相位噪聲和時(shí)鐘抖動(dòng)的轉(zhuǎn)換關(guān)系;采用HITTITE的HMC1035LP6GE頻率綜合芯片作為主芯片,設(shè)計(jì)了時(shí)鐘生成電路,2 500 MHz輸出時(shí)鐘抖動(dòng)測量值90 fs(整數(shù)工作模式,輸入頻率100 MHz,鑒相頻率100 MHz,環(huán)路濾波帶寬127 kHz,積分區(qū)間[10 kHz,10 MHz])。對比時(shí)鐘生成電路在各種工作模式下的性能,給出了對應(yīng)的設(shè)計(jì)指南。
引 言
近些年來,國內(nèi)對高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的研究如火如荼,取得很多的成果。在高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中,有幾個(gè)性能經(jīng)常被比較提出,包括:模擬輸入帶寬、采樣率、分辨率、有效位和存儲深度等,前4個(gè)指標(biāo)主要由數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)前端來決定(數(shù)字增強(qiáng)型的輸入帶寬、數(shù)字增強(qiáng)型的分辨率和數(shù)字增強(qiáng)型的有效位不在討論之列)。數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的前端主要包括了前端模擬信號調(diào)理電路、模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(Analog to digital converter, ADC)、超低抖動(dòng)時(shí)鐘產(chǎn)生電路等。
目前,很多應(yīng)用場合都使用具有高采集率、高分辨率的ADC,為充分利用ADC的帶寬、采樣率、分辨率和有效位等性能,必須為ADC選擇極低噪聲的模擬信號調(diào)理電路、超低抖動(dòng)的時(shí)鐘產(chǎn)生電路和超低紋波電源產(chǎn)生電路等。以下將重點(diǎn)討論ADC的有效位指標(biāo),影響ADC的有效位(Effective number of bits,ENOB)的因素很多,包括ADC自身因素(ADC的孔徑抖動(dòng)(Aperture jitter)、ADC的量化噪聲(Quantization noise)、ADC的非線性等、模擬輸入信號噪聲、采樣時(shí)鐘抖動(dòng)、電源紋波噪聲等,信噪比(Signal to noise ration, SNR)具體可參考式(1),該公式的描述中未體現(xiàn)電源紋波噪聲,或者已經(jīng)將電源紋波噪聲等效在其他因素中[1?5]。
式中:fin為滿量程(ADC輸入量程)模擬輸入的標(biāo)準(zhǔn)正弦波頻率;tjrms為ADC的孔徑抖動(dòng)和采樣時(shí)鐘抖動(dòng)的均方根值;ε為ADC的非線性,包含了積分非線性和微分非線性;N為ADC量化位數(shù);VNOISErms為模擬輸入噪聲。在模擬輸入滿量程(不考慮幅度修正問題)且tjrms=0、ε=0、VNOISErms=0的情況下,僅考慮ADC量化噪聲貢獻(xiàn),得到ADC的理想信噪比為
式中信納比(Signal to noise and distortion ratio, SINAD)為信號功率與噪聲、諧波功率之比;ENOB為ADC的實(shí)際有效位數(shù)。
在模擬輸入滿量程且ε=0、VNOISErms=0的情況下,將量化噪聲等效到tjrms中,得到僅由抖動(dòng)貢獻(xiàn)的SINAD(如式(3))[6]。此處亦可以考慮成將其余因素全部等效為抖動(dòng)tjrms的貢獻(xiàn),則
在模擬輸入滿量程且tjrms=0、VNOISErms=0的情況下,將量化噪聲等效到ε中,得到僅由非線性動(dòng)貢獻(xiàn)的SINAD(如式(4))。此處亦可以考慮成,將其余因素全部等效為非線性ε的貢獻(xiàn)。
可以看到, fin、tjrms、ε、VNOISErms與外部輸入相關(guān),可以通過降低采樣時(shí)鐘抖動(dòng)、降低電源噪聲和提高模擬輸入信號品質(zhì)等途徑,提高ADC的有效位數(shù)ENOB[7]。應(yīng)用舉例:在輸入信號頻率 fin=125 MHz且要求ADC有效位ENOB=10 bits情況下,根據(jù)式(2,3)得到:等效抖動(dòng)tjrms=1.02 ps,此處的等效抖動(dòng)包括了ADC的自身因素和各種外界因素的貢獻(xiàn),實(shí)際對采樣時(shí)鐘抖動(dòng)的要求更高。若在輸入信號頻率 fin=125 MHz且要求ADC有效位ENOB=14 bits情況下,根據(jù)式(2)和式(3)得到:等效抖動(dòng)tjrms=64 fs??梢钥闯?,對于高頻輸入模擬信號且高有效位的ADC設(shè)計(jì),低抖動(dòng)的時(shí)鐘設(shè)計(jì)是一個(gè)關(guān)鍵,降低采樣時(shí)鐘抖動(dòng),不僅能夠提高ADC有效位ENOB,還能夠提高ADC的模擬輸入帶寬[8]。
1 時(shí)鐘相位噪聲和時(shí)鐘抖動(dòng)
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中經(jīng)常提到的時(shí)鐘相位噪聲和時(shí)鐘抖動(dòng)指標(biāo),兩者是同一項(xiàng)時(shí)鐘性能在頻域和時(shí)域的不同表現(xiàn)形式,本質(zhì)是衡量時(shí)鐘短期穩(wěn)定性的指標(biāo)。時(shí)鐘的長期穩(wěn)定性使用頻率漂移(Frequency drift)來描述,其短期穩(wěn)定性使用時(shí)鐘抖動(dòng)(Clock jitter)或者時(shí)鐘相位噪聲( Clock phase noise)來描述[9?11]。
時(shí)鐘抖動(dòng)(Clock jitter)。表示時(shí)鐘抖動(dòng)的方法有多種[12]:周期抖動(dòng)(Period jitter)、周期到周期抖動(dòng)(Cycle to cycle jitter)、時(shí)間間隔誤差(Time interval error)等,其中周期抖動(dòng)比較常見。
相位噪聲。L(f)定義為在1 Hz的帶寬劃分下,頻率fm處的功率與時(shí)鐘中心頻率f0(亦稱載波頻率fc)的功率之比,如式(5),一般用 dBc/Hz表示[13],有的文獻(xiàn)中將S(fm)寫成PN(fm),其中S代表頻譜(Spectrum);PN代表相位噪聲,S(f)為時(shí)鐘的功率譜密度 (Power spectrum density,PSD)函數(shù),單位為W/Hz。
以下討論的時(shí)鐘抖動(dòng)指的是時(shí)鐘周期抖動(dòng),將時(shí)鐘周期抖動(dòng)和相位噪聲關(guān)聯(lián)起來并進(jìn)行相互轉(zhuǎn)換,需要借助于相位抖動(dòng)(Phase jitter)。相位抖動(dòng)定義為相位噪聲功率譜密度上一定頻帶內(nèi)的相位噪聲能量總和,如式(6),單位弧度,式中,f1,f2為頻率積分區(qū)間的下限、上限。相位抖動(dòng)是一個(gè)頻域的概念,頻域的相位抖動(dòng)和時(shí)域的周期抖動(dòng)之間換算關(guān)系為
關(guān)于相位抖動(dòng)的頻率積分區(qū)間[f1,f2],理論上講,積分區(qū)間下限f1應(yīng)該盡量低,f1為1 Hz、10 Hz等,帶寬上限應(yīng)盡量高, f2為2 f0、+∞+∞。實(shí)際使用時(shí),需要根據(jù)應(yīng)用場合調(diào)整頻率積分區(qū)間 [12],例如:光纖通道的時(shí)鐘抖動(dòng)的積分區(qū)間為[637 kHz,10 MHz],10 GHz以太網(wǎng)XAUI中時(shí)鐘抖動(dòng)的積分區(qū)間為[1.875 MHz,20 MHz],SATA/SAS的時(shí)鐘抖動(dòng)的積分區(qū)間為[900 kHz,7 MHz][14]。
2 時(shí)鐘產(chǎn)生電路
根據(jù)以上理論分析,為了使ADC芯片可以實(shí)現(xiàn)最佳性能,需要為其提供超低抖動(dòng)的時(shí)鐘信號。選用了HITTITE公司(已被ADI收購)的HMC1035LP6GE[15?17](以下簡稱HMC1035)時(shí)鐘產(chǎn)生芯片(或稱為頻率綜合芯片),設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了超低抖動(dòng)時(shí)鐘產(chǎn)生電路,主要驗(yàn)證以下功能:(1)實(shí)現(xiàn)整數(shù)模式和小數(shù)模式下時(shí)鐘頻率輸出,比較兩者的時(shí)鐘抖動(dòng)。(2)整數(shù)模式下鑒相頻率(Phase detector frequency, PFD)對輸出時(shí)鐘抖動(dòng)的影響。(3)供電電源對HMC1035輸出的影響等。HMC1035工作在整數(shù)模式、50 MHz輸入、2 500 MHz輸出的時(shí)鐘抖動(dòng)典型值為97 fs[12 kHz,20 MHz],622.08 MHz輸出的時(shí)鐘抖動(dòng)典型值為107 fs[12 kHz,20 MHz]。
圖1為時(shí)鐘產(chǎn)生電路的原理圖。高穩(wěn)參考信號源采用的是Crystek公司的CCHD?950?25?100M:輸出頻率為100 MHz[18],實(shí)際測量其時(shí)鐘抖動(dòng)為135 fs[10 kHz,10 MHz];高速信號扇出芯片采用HITTITE公司的HMC987LP5GE芯片[19],用于低噪聲時(shí)鐘分配,可以完成1∶9扇出緩沖器功能。
圖 1 時(shí)鐘產(chǎn)生電路原理圖
PCB設(shè)計(jì)采用了4層板結(jié)構(gòu):L1(TOP,Signal)→L2(GND)→L3(Power)→L4(Bottom,Signal),F(xiàn)R?4板材,1.6 mm標(biāo)準(zhǔn)厚度。設(shè)計(jì)時(shí),TOP層、Bottom層走線阻抗控制,單線特征阻抗50 Ω,差分線特征阻抗100 Ω,Top、Bottom層表面鋪銅接地。電源設(shè)計(jì)采用外部電源供電,分析了2種供電方式對HMC1035輸出頻率的影響。關(guān)于高速電路的電源去耦的設(shè)計(jì),有很多專門的文章進(jìn)行論述[20?23],這里不再贅述。
HMC1035窄帶環(huán)路濾波的設(shè)計(jì)關(guān)系到PLL的頻率鎖定和時(shí)鐘噪聲濾除[24?25]:寬帶濾波器有利于鎖定但不利于濾除噪聲,窄帶濾波器有利于濾除噪聲但不利于鎖定,最終使用器件手冊上給出的127 kHz的無源四階低通環(huán)路濾波器。
需要特別指出的是,在工作時(shí),高速芯片引腳的連接,除了給定的NC引腳可以懸空之外,在芯片工作時(shí)需要使用的引腳,不推薦懸空,引腳一旦懸空,容易導(dǎo)致引腳狀態(tài)未知,影響系統(tǒng)的穩(wěn)定。設(shè)計(jì)的時(shí)鐘產(chǎn)生電路實(shí)物圖如圖2所示。
圖 2 時(shí)鐘產(chǎn)生電路實(shí)物
3 時(shí)鐘電路測試
時(shí)鐘抖動(dòng)測試儀器采用ROHDE&SCHWARZ公司的FSW13頻譜與信號分析儀,采用標(biāo)準(zhǔn)配件,在進(jìn)行頻譜分析時(shí),積分區(qū)間[10 kHz,10 MHz]。
3.1 整數(shù)模式和小數(shù)模式下的時(shí)鐘抖動(dòng)比較
采用直流電壓源供電,直流電壓源型號Agilent E3631A,通過SPI配置HMC1035芯片,測量HMC1035在整數(shù)模式和小數(shù)模式輸出時(shí)鐘的抖動(dòng),其它工作條件都相同,得到表1。表1中HMC1035 2500 MHz?50M Hz?integer表示HMC1035頻率綜合芯片工作條件為整數(shù)模式、50 MHz鑒相器(Phase detector,PD)頻率、2 500 MHz 壓控振蕩器(Voltage controlled oscillator,VCO)頻率。HMC1035 2 500 MHz?50 MHz?fractional表示HMC1035頻率綜合芯片工作條件為小數(shù)模式、50 MHz PD頻率、2 500 MHz VCO頻率。測量得到高穩(wěn)參考信號輸出的100 MHz對應(yīng)的時(shí)鐘抖動(dòng)典型值為135 fs(以下簡稱為100 MHz VCXO jitter),高速信號扇出后的100 MHz信號時(shí)鐘抖動(dòng)典型值為152 fs(以下簡稱為HMC987 fanout jitter),以下表1重復(fù)部分不再贅述。
表 1 整數(shù)模式和小數(shù)模式對HMC1035芯片輸出性能的影響
整數(shù)模式下鎖相環(huán)(Phase lock loop, PLL)的輸出分頻率受限于PD的頻率步進(jìn)。小數(shù)模式的優(yōu)點(diǎn)在于可以提高PLL的輸出分辨率,顯著改善鎖定時(shí)間,但是小數(shù)模式下工作的PLL的輸出雜散水平較高,影響時(shí)鐘抖動(dòng)指標(biāo)??梢钥吹剑盒?shù)模式下的輸出時(shí)鐘抖動(dòng)明顯高于整數(shù)模式下的輸出時(shí)鐘抖動(dòng)[26?27]。原因在于整數(shù)模式下,不使用Σ?Δ調(diào)制器,降低了引入的時(shí)鐘抖動(dòng)。按照抖動(dòng)的平方根值理論,可以看到Σ?Δ調(diào)制器的抖動(dòng)貢獻(xiàn)約為 (1232-982)0.5=74 fs(2 500 MHz輸出頻率,單次,未考慮統(tǒng)計(jì)漲落)。此處同時(shí)給出2 488,622,77.76 MHz的輸出時(shí)鐘抖動(dòng)測量值,是為了與手冊給出的典型值進(jìn)行對比。
3.2 整數(shù)模式下PD工作頻率對時(shí)鐘抖動(dòng)的影響
采用直流電壓源供電,HMC1035工作在整數(shù)模式下,PD工作頻率為100,50,10,1 MHz,測量輸出時(shí)鐘抖動(dòng)性能,結(jié)果如表2所示,分析PD工作頻率對輸出時(shí)鐘抖動(dòng)的影響。
表 2 PD工作頻率對HMC1035芯片輸出性能的影響
PD有2個(gè)輸入端,一端接參考輸入頻率fxtal的R分頻,一端接VCO工作頻率fVCO的N分頻。PD穩(wěn)定工作在整數(shù)模式時(shí),PD無偏置,電流為0,此時(shí),只需要考慮PD工作頻率fPD對輸出時(shí)鐘抖動(dòng)的貢獻(xiàn),fPD表示為
PD將fVCO的N分頻的反饋頻率與輸入?yún)⒖碱l率的某一分頻形式進(jìn)行鑒相,輸出一個(gè)電流,經(jīng)過積分和外部環(huán)路濾波,產(chǎn)生一個(gè)電壓,這個(gè)電壓驅(qū)動(dòng)VCO提高或者降低頻率,使PD的輸出電流的等效電壓接近0,達(dá)到平衡。提高fPD,可以降低輸出時(shí)鐘相位噪聲,相位噪聲是在PD的最高工作頻率上加20 logR,因此R越大,PD工作頻率越低,相位噪聲越差,R增大一倍,相位噪聲降低3 dB,應(yīng)該使用可行的PD最高工作頻率,但實(shí)際往往需要均衡[28?29]。文章表格描述的大部分HMC1035的輸出時(shí)鐘抖動(dòng)都是基于50 MHz的fPD,該fPD為器件手冊推薦工作頻率;但是fPD為100 MHz時(shí),HMC1035的輸出時(shí)鐘抖動(dòng)指標(biāo)更優(yōu),只是鎖定時(shí)間增加,功耗增加。
3.3 整數(shù)模式下供電電源對時(shí)鐘抖動(dòng)的影響
HMC1035芯片在正常工作時(shí),其功耗比較高,為保證PLL的輸出性能,需要選擇好供電方式,并做好電源的去耦和PCB散熱等工作。在保證電源去耦的前提下,分析了直流電壓源(Agilent E3631A)供電和DC/DC開關(guān)電源(PTH08T240W)供電對PLL芯片輸出性能的影響,如表3所示。另外給出了直流電壓源供電時(shí)HMC1035的典型相位噪聲曲線(圖3)。
表 3 直流供電和DC/DC電源供電對HMC1035芯片輸出性能的影響
圖 3 HMC1035的典型相位噪聲示意圖
可以看出,開關(guān)電源供電對整個(gè)系統(tǒng)的性能影響很大,不僅增加了HMC1035的輸出時(shí)鐘抖動(dòng),而且增加了信號路徑上的所有時(shí)鐘抖動(dòng)。開關(guān)電源供電對HMC1035的輸出時(shí)鐘抖動(dòng)貢獻(xiàn)較大,預(yù)估約為90 fs(2 500 MHz輸出頻率,單次,未考慮統(tǒng)計(jì)漲落),其貢獻(xiàn)主要來源于開關(guān)頻率及其高次諧波的影響。采用外部直流電壓源供電后,HMC1035的輸出頻譜上,在300 kHz的開關(guān)頻率附近依然有毛刺,如圖3所示。這是因?yàn)镾PI配置HMC1035、HMC987的工作狀態(tài)的芯片由開關(guān)電源供電,SPI配置線路上未做好隔離處理,電源噪聲通過SPI配置線路耦合到HMC1035電路板上引起[30]。
3.4 分析與討論
受限于測量儀器的指標(biāo)限制,本次實(shí)驗(yàn)給出的時(shí)鐘抖動(dòng)的積分區(qū)間為[10 kHz,10 MHz],器件手冊給出的時(shí)鐘抖動(dòng)指標(biāo)的積分區(qū)間為[12 kHz,20 MHz],根據(jù)測量得到的噪聲功率譜密度圖,可以從理論上推出積分區(qū)間[12 kHz,20 MHz]的時(shí)鐘抖動(dòng)[13]。
根據(jù)式(5),如圖3所示,計(jì)算得到,在[10 kHz,12 kHz]區(qū)間,噪聲功率的貢獻(xiàn)約為6×10-9 dBc量級;在[10 MHz,20 MHz]的區(qū)間,噪聲功率的貢獻(xiàn)約為6×10-8 dBc量級。大致計(jì)算得到,在[10 kHz,10 MHz]區(qū)間,噪聲功率總體為10-6 dBc量級。在[10 kHz,10 MHz]區(qū)間噪聲功率基礎(chǔ)上,減去[10 kHz,12 kHz]區(qū)間的噪聲功率貢獻(xiàn),加上[10 MHz,20 MHz]區(qū)間的噪聲功率貢獻(xiàn),得到[12 kHz,20 MHz]區(qū)間的時(shí)鐘抖動(dòng)數(shù)值。可以定量分析,[10 kHz,12 kHz]區(qū)間的噪聲功率和[10 MHz,20 MHz]區(qū)間的噪聲功率,相對于[10 kHz,10 MHz]區(qū)間的噪聲功率小很多,理論上講,[12 kHz,20 MHz]區(qū)間時(shí)鐘抖動(dòng)比[10 kHz,10 MHz]區(qū)間的時(shí)鐘抖動(dòng)指標(biāo)稍低一些,但相差無幾。
以ADS5400為例說明超低抖動(dòng)時(shí)鐘在高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中的應(yīng)用,ADS5400孔徑抖動(dòng)aperture jitter為125 fsrms。當(dāng)fin=125 MHz,ENOB=10 bits時(shí),根據(jù)式(2,3),得出tjrms=1.02 ps[12 kHz,20 MHz]。與tjrms相比,ADC的孔徑抖動(dòng)可以忽略,HMC1035輸出采樣時(shí)鐘抖動(dòng)亦可以忽略,此處影響ADC有效位的因素主要為模擬輸入噪聲和電源紋波噪聲等其他因素。當(dāng)fin=125 MHz,ENOB=14 bits時(shí),根據(jù)式(2,3),得出tjrms=64 fs[12 kHz,20 MHz]。與tjrms相比,ADC的孔徑抖動(dòng)、HMC1035輸出采樣時(shí)鐘抖動(dòng)已經(jīng)無法滿足要求。當(dāng)fin=1 250 MHz,ENOB=10 bits時(shí),根據(jù)式(2,3),得出tjrms=102 fs[12 kHz,20 MHz],與tjrms相比,ADC的孔徑抖動(dòng)、HMC1035輸出采樣時(shí)鐘抖動(dòng)已經(jīng)無法有效滿足要求。同理,當(dāng)fin=1 250 MHz,ENOB=14 bits時(shí),根據(jù)式(2,3),得出tjrms=6.4 fs[12 kHz,20 MHz],目前所知的ADC芯片和時(shí)鐘產(chǎn)生電路都無法滿足要求,這種情況下,可以采用下變頻等方法對輸入高頻信號進(jìn)行下變頻之后采樣,降低對ADC芯片和時(shí)鐘產(chǎn)生電路的要求。該方法在加速器的低電平控制(Low level radio frequency, LLRF)、數(shù)字移動(dòng)通信等場景中應(yīng)用廣泛。
可以看到,針對低頻輸入信號、對有效位要求不高等情況時(shí),采樣時(shí)鐘抖動(dòng)對ADC有效位的影響較小,甚至可以忽略,這時(shí)需要注意低噪聲的模擬信號調(diào)理電路設(shè)計(jì)和電源完整性設(shè)計(jì)等。針對高頻輸入信號、對有效位要求高等情況時(shí),采樣時(shí)鐘抖動(dòng)對ADC有效位的影響很大,需要精心設(shè)計(jì)采樣時(shí)鐘等以充分提高數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的模擬輸入帶寬和有效位。
4 結(jié)束語
本文分析了影響高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)有效位和帶寬的因素,推導(dǎo)給出時(shí)鐘抖動(dòng)對有效位的影響。并且研究時(shí)鐘相位噪聲和時(shí)鐘抖動(dòng)之間的轉(zhuǎn)換關(guān)系,給出了理論依據(jù)和轉(zhuǎn)換過程。
高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)是一個(gè)系統(tǒng)工程,需要設(shè)計(jì)極低噪聲的模擬信號調(diào)理電路、超低抖動(dòng)的時(shí)鐘產(chǎn)生電路、超低紋波電源產(chǎn)生電路等。針對高頻輸入信號進(jìn)行數(shù)據(jù)采集、對有效位要求高等情況,選擇合適的時(shí)鐘產(chǎn)生方式、獲取超低抖動(dòng)采樣時(shí)鐘尤其重要。
參考文獻(xiàn)
1 TILDEN S. IEEE standard for terminology and test methods for analog-to-digital converters[EB/OL]. (2011-01-14) [2020-02-10]. https://standards.ieee.org/standard/1241-2010.html. [百度學(xué)術(shù)]
2 林海川. 面向低頻射電探測的自觸發(fā)前端單元的研制[D]. 北京: 中國科學(xué)院高能物理研究所, 2014. [百度學(xué)術(shù)]
LIN Haichuan. R&D of the self-triggering front-end unit for low frequency radio detection[D]. Beijing: IHEP, CAS, 2014. [百度學(xué)術(shù)]
3 Kester W. Analog-digital Conversion[EB/OL]. (2004-03-01) [2020-02-10]. http://www.analog.com. [百度學(xué)術(shù)]
4 李海濤,李斌康,阮林波. 高速高分辨率ADC有效位測試方法研究[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用, 2013, 39(5):41-43. [百度學(xué)術(shù)]
LI Haitao, LI Binkang, RUAN Linbo. Research on the ENOB test methods of high-speed high-resolution ADC[J]. Application of Electronic Technique, 2013, 39(5): 41-43. [百度學(xué)術(shù)]
5 李海濤,阮林波,田耕. FFT方法在ADC有效位測試中的應(yīng)用探討[J]. 電測與儀表, 2013, 50(10): 14-17. [百度學(xué)術(shù)]
LI Haitao, RUAN Linbo, TIAN Geng. Application and discussion of the FFT methods in the ADC ENOB test[J]. Electrical Measurement and Instrumentation, 2013, 50(10): 14-17. [百度學(xué)術(shù)]
6 Pearson C. High-speed analog-to-digital converter basics[EB/OL]. (2011-01-01) [2020-02-10]. http://www.ti.com. [百度學(xué)術(shù)]
7 Brannon B. Sampled systems and the effects of clock phase noise and jitter [EB/OL]. (2004-12-01) [2020-02-10]. http://www.analog.com. [百度學(xué)術(shù)]
8 余琨. ATE測試中抖動(dòng)對高性能ADC測試結(jié)果影響與分析[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用, 2016, 42(7): 46-49. [百度學(xué)術(shù)]
Yu Kun. Effects and analysis of jitter on high performance ADC in ATE testing[J]. Application of Electronic Technique, 2016, 42(7): 46-49. [百度學(xué)術(shù)]
9 吳義華, 宋克柱, 何正淼. 時(shí)鐘抖動(dòng)測量方法[J]. 數(shù)據(jù)采集與處理, 2006, 21(1): 99-102. [百度學(xué)術(shù)]
Wu Yihua, Song Kezhu, He Zhengmiao. Clock jitter measurement method[J].Journal of Data Acquisition & Processing, 2006, 21(1): 99-102. [百度學(xué)術(shù)]
10 LALITTE V. IEEE standard definitions of physical quantities for fundamental frequency and time metrology-random instabilities[EB/OL]. (2009-02-27) [2020-02-10]. https://standards.ieee.org/standard/1139-2008.html. [百度學(xué)術(shù)]
11 陳鑫, 吳寧. 數(shù)字鎖相環(huán)的最優(yōu)化設(shè)計(jì)[J]. 南京航空航天大學(xué)學(xué)報(bào), 2012, 44(1): 87-82. [百度學(xué)術(shù)]
CHEN Xin, WU Ning. Optimal design of digital phzse-locked loop[J]. Journal of Nanjing University of Aeronautics & Astronautics, 2012, 44(1): 87-82. [百度學(xué)術(shù)]
12 Sitime. Clock jitter definitions and measurement methods[EB/OL]. (2004-01-01) [2020-02-10]. http://www.sitime.com. [百度學(xué)術(shù)]
13 Kester W. Converting oscillator phase noise to time jitter [EB/OL]. (2008-10-01) [2020-02-10]. http://www.analog.com. [百度學(xué)術(shù)]
14 Texas Instrument. LMK03806 datasheet[EB/OL]. (2018-09-01) [2020-02-10]. http://www.ti.com. [百度學(xué)術(shù)]
15 Analog Devices. HMC1035 datasheet[EB/OL]. (2017-02-23) [2020-02-10]. http://www.analog.com. [百度學(xué)術(shù)]
16 羅陽. 一種寬帶亞皮秒級抖動(dòng)時(shí)鐘發(fā)生器的設(shè)計(jì)[J]. 科技創(chuàng)新,2013, 19(7): 48-49. [百度學(xué)術(shù)]
LUO Yang. Design of wideband clock generator with sub-picosecond jitter[J]. Technology Innovation and Application, 2013, 19(7): 48-49. [百度學(xué)術(shù)]
17 潘玉劍,張曉發(fā),袁乃昌. 基于HMC830的低相噪低雜散頻率源的設(shè)計(jì)[J]. 電子設(shè)計(jì)工程, 2011, 19(10): 180-182. [百度學(xué)術(shù)]
PAN Yujian, ZHANG Xiaofa, YUAN Naichang. Design of low phase noise and low spurious frequency source based on HMC830[J]. Electronic Design Engineering, 2011, 19(10): 180-182. [百度學(xué)術(shù)]
18 CRYSTE K. CCHD-950 datasheet[EB/OL]. (2010-01-25) [2020-02-10]. http://www.crystek.com. [百度學(xué)術(shù)]
19 Analog Devices. HMC987LP5E datasheet [EB/OL]. (2010-11-18) [2020-02-10]. http://www.analog.com. [百度學(xué)術(shù)]
20 于爭. 信號完整性 [EB/OL]. (2013-10-01) [2020-02-10]. http://www.sig007.com, 2010. [百度學(xué)術(shù)]
YU Zheng. Signal integrity [EB/OL]. (2013-10-01) [2020-02-10]. http://www.sig007.com, 2010. [百度學(xué)術(shù)]
21 孟祥勝, 車凱, 栗曉峰, 等. 高速PCB電路電源完整性仿真分析[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用, 2019, 45(9): 50-53. [百度學(xué)術(shù)]
Meng Xiangsheng, Che Kai, Li Xiaofeng, et al. High-speed PCB circuit power integrity simulation analysis[J]. Application of Electronic Technique, 2019, 45(9): 50-53. [百度學(xué)術(shù)]
22 Alexander M. Power distribution system design-using bypass capacitors[EB/OL]. (2005-02-28) [2020-02-10]. http://www.xilinx.com, 2005. [百度學(xué)術(shù)]
23 KESTER W. Decoupling techniques [EB/OL]. (2009-03-01) [2020-02-10]. http://www.analog.com. [百度學(xué)術(shù)]
24 邱亮, 茆亞洲, 彭滟, 等. 基于時(shí)鐘樹機(jī)制的超高速數(shù)字鎖相放大系統(tǒng)[J]. 數(shù)據(jù)采集與處理, 2019,34(4): 715-722. [百度學(xué)術(shù)]
Qiu Liang, Mao Yazhou, Peng Yan, et al. Ultra?high speed digital phase?locked amplifier system based on clock tree mechanism[J]. Journal of Data Acquisition & Processing, 2019,34(4): 715-722. [百度學(xué)術(shù)]
25 Analog Devices. Hmc833lp6g datasheet[EB/OL]. (2014-07-01) [2020-02-10]. http://www.analog.com. [百度學(xué)術(shù)]
26 楊建明. 小數(shù)分頻頻率合成器的Σ-Δ調(diào)制分析及優(yōu)化[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用, 2019, 44(3): 19-22. [百度學(xué)術(shù)]
Yang Jianming. Σ-Δ modulation analysis and optimation in fractional-N frequency synthesizer[J]. Application of Electronic Technique, 2019, 44(3): 19-22. [百度學(xué)術(shù)]
27 童姣葉, 李榮寬, 何國軍. 電荷泵鎖相環(huán)的相位噪聲研究[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用, 2016, 42(1): 28-30. [百度學(xué)術(shù)]
Tong Jiaoye, Li Rongkuan, He Guojun. Study on phase noise of charge-pump phase-locked loops[J]. Application of Electronic Technique, 2016, 42(1): 28-30. [百度學(xué)術(shù)]
28 孫磊, 安建平, 武巖波. 信號串?dāng)_對高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器性能影響分析[J]. 數(shù)據(jù)采集與處理, 2008, 23(4): 486-491. [百度學(xué)術(shù)]
SUN Lei, AN Jianping, WU Yanbo.Analysis on signal cross-talk effects on sampling clock and analog-to-digital system[J]. Journal of Data Acquisition and Processing, 2008, 23(4): 486-491. [百度學(xué)術(shù)]
29 Harney A. PLL的電源管理設(shè)計(jì)[J]. 模擬對話, 2011,45(9): 1-4. [百度學(xué)術(shù)]
Harney A. Power management design of PLL[J]. Analog Dialog, 2011,45(9): 1-4. [百度學(xué)術(shù)]
30 NEU T. Clock jitter analyzed in the time domain [EB/OL]. (2010-03-01) [2020-02-10]. http://www.ti.com. [百度學(xué)術(shù)]
作者:李海濤,李斌康 ,阮林波,田耕,張雁霞
免責(zé)聲明:本文為轉(zhuǎn)載文章,轉(zhuǎn)載此文目的在于傳遞更多信息,版權(quán)歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權(quán)問題,請聯(lián)系小編進(jìn)行處理。
推薦閱讀:
通過輸出MOSFET的寄生二極管進(jìn)行電流再生時(shí)的功耗
基于模型的GAN PA設(shè)計(jì)基礎(chǔ)知識:GAN晶體管S參數(shù)、線性穩(wěn)定性分析與電阻穩(wěn)定性